cpu重点信号(5)

来源:未知    发表时间:2013-12-18    浏览次数:
實驗機種 : 8GEM667K-GB-10FEX
1 : 將 ICH SERIRQ Pull High 電阻 open , 不影響開機EX
2 : 將 ICH SERIRQ Pull High 電阻鄰腳 ( GPO19 ) short , 不影響開機EX
3 : 將 ICH SERIRQ 與 Super I/O open , 不影響開機EX
4 : 將 ICH SERIRQ 與 Super I/O 相鄰腳 PIN69 short , 不影響開機EX
5 : 將 ICH SERIRQ 與 Super I/O 相鄰腳 PIN71 short , 貝爾卡當 [ C0 ]



測試不良代碼

 
維修方向



 其他Error Code 不良

電池沒電(2)標準維修流程 維修歷史記錄
   
檢查電池是否原材不良 1. Vbat 信號至 I/O CHIP 斷路造成 H/W MONITOR  FAIL
2. 電池正負極與機板空焊造成電流值 0
3. Vbat 的電容對地SHORT或有阻值
4. 電池物件不良
5. RTCRST 到南橋OPEN
6. CLR_CMOS JUMPER 調錯
7. RTCVDD的電容對地有阻值或對地
8. Vbat 信號至南橋 OPEN
9. RTCVDD 到南橋 OPEN
10. I/O CHIP物件不良
11. 南橋物件不良
12. 電池正極與零件連接線路斷路造成電流值 0
以電流檔(200uA)檢查是否漏電流過大,造成電池沒電
檢查Vbat信號至南橋是否有OPENSHORT(以二極體法量測)
檢查Vbat信號至I/O CHIP是否有連接(以嗶嗶檔量測)
及使用分離法判定 I/O CHIP 是否物件不良
檢查RTCRST信號至南橋是否有OPENSHORT(以二極體法量測)
檢查RTCVDD所使用之電容
檢查 CLEAR CMOS JUMPER是否調錯
檢查電池線路上所使用的二極體 ,電容 ,電阻
及電池線路與各零件是否有連接
(以嗶嗶檔量測)

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