RD资料(1)

来源:未知    发表时间:2013-12-23    浏览次数:

首先我要說的是一個人盡皆知的事實:這“時間”它一直在不停的走!
下面回歸主題吧: 把握住新機種這一關,每一次版本的升級都會新技術產生,而我們只有掌握每 一次變動,才能夠保持技術的經久不衰 ,才不致落伍。要不然,我們終會被自己打敗。

實 例 一 :


 
Test6,7,8正常波形:

不良波形:

1.      經分析, 上述信號都是Analog信號, 以VREF為基準, 由於VREF異常, 導致這些信號無法正常工作.
測試一:換上編後為2C20066160的ALC650芯片:1. 測得更換芯片後, DVDD1=DVDD2=3.12V, clock=12.318MHz, AVDD1=AVDD2=5.01V, VREF=2.35V, 正常. 2.      測試RESET#, SYNC, BIT_CLK, SDATA_IN, SDATA_OUT信號,其時序和電壓符合規格.3. 用TL79測試, 發現test12: Play two wave files (48k/44.1 sampling rate/16-bits stereo file).測試fail, 顯示信息: Fail: SPDIF-OUT Function Test測試與SPDIF-OUT Function Test相關信號: 47pin SPDIFI, 48pin SPDIFO
 
Function test pass波形:


對比波形, 測試不良板47pin有明顯雜訊. 但是經驗證(增加一電容濾波)不是引起SPDIF-OUT fail的原因.      因 SPDIF-OUT測試信號回路是:SPDIF-OUT and MIC-IN. 然後分析數據是否正確. 因此, 量測SPDIF-OUT測試時MIC-IN的波形.

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