RD资料（2）
Function test pass 在進行數據比對時會出現如下波形:
Function test fail 在進行數據比對時會出現如下多種異常波形或沒有電壓變化:
MIC1&MIC2信號由TL79輸入給ALC650,根據線路圖, 取下C159&C226, 測量由TL79輸入至ALC650的波形(由AUDIO1-2輸入).
功能测试通过
功能测试失败
因此, 測試SPDIF-OUT時, 由TL-79輸入給ALC650的信號異常,而且會出現多種異常波形, 因而,應該是TL79在處理由ALC650 SPDIF-OUT信號時發生錯誤, 但是, 比較良板與不良板的SPDIF-OUT信號, 沒有發現明顯異常. 因此, 這片ALC650 Chipset與TL79存在兼容性問題.
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